SHRIMP

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カーティン工科大学に設置されているSHRIMP II

SHRIMP(Sensitive High Resolution Ion Microprobe)とは二次イオン質量分析器を搭載したイオン顕微鏡である。 イオンを走査する事により、三次元的な同位体の分布を調べる事ができる装置で、Australian Scientific Instruments社とオーストラリア国立大学の共同で開発された。

世界でSHRIMPを設置している機関[編集]

製造番号 設置している機関 地域 SHRIMPの形式 設置年
1 オーストラリア国立大学 キャンベラ I 1980 (2011年に引退)
2 オーストラリア国立大学 キャンベラ II/mc 1992
3 カーティン工科大学 パース II 1993
4 カナダ地質調査所 オタワ II 1995
5 広島大学 広島 IIe 1996
6 オーストラリア国立大学 キャンベラ RG 1998
7 アメリカ地質調査所及びスタンフォード大学 スタンフォード RG 1998
8 国立極地研究所 東京 II 1999
9 中国地質科学院 北京 II 2001
10 全ロシア地質調査研究所 サンクトペテルブルク II/mc 2003
11 カーティン工科大学 パース II/mc 2003
12 ジオサイエンス・オーストラリア キャンベラ IIe 2008
13 韓国基礎科学研究所 Ochang IIe/mc 2009
14 サンパウロ大学 サンパウロ II/mc 2010
15 グラナダ大学 グラナダ IIe/mc 2011
16 オーストラリア国立大学 キャンベラ SI/mc 2012
17 中国地質科学院 北京 IIe/mc 2013
18 産業技術総合研究所 つくば IIe/amc 2013
19 ポーランド地質学研究所 - 国立研究所 ワルシャワ IIe/mc 2014
20 国立極地研究所 東京 IIe/amc 2014

関連項目[編集]

脚注[編集]