二川清

出典: フリー百科事典『ウィキペディア(Wikipedia)』
ナビゲーションに移動 検索に移動

二川 清(にかわ きよし、1949年 - )は、日本の技術者である。大阪府出身。

現在、一般的に使われている半導体故障解析技術である、IR-OBIRCHの開発者の一人として知られる。 大阪大学大学院基礎工学研究科物理系修士課程修了。工学博士。現、金沢工業大学大学院工学研究科客員。

主な著書[編集]

  • 『はじめてのデバイス評価技術』(工業調査会、2000年)
  • 『故障解析技術』(日科技連出版社、2008年)
  • 『LSIテスティングハンドブック』(編著、オーム社、2008年)
  • 『信頼性問題集』(編著、日科技連出版社、2009年)
  • 『LSIの信頼性』(編著、日科技連出版社、2010年)
  • 『新版 LSI故障解析技術』(日科技連出版社、2011年)

関連項目[編集]