ファイル:AFMsetup.jpg

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AFMsetup.jpg ‎(721 × 569 ピクセル、ファイルサイズ: 86キロバイト、MIME タイプ: image/jpeg)

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概要

解説
English: Typical atomic force microscope (AFM) setup: The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured by reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample.
Deutsch: Typischer Aufbau eines Rasterkraftmikroskops (RKM): Die Auslenkung eines Abtastarms (Englisch: Cantilever) mit einer feinen Tastspitze wird während des Abtastens der Oberfläche anhand der Auslenkung eines Laserstrahls bestimmt, der von der Oberseite des Abtastarms reflektiert wird.
日付 2013-10-13--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)--202.160.164.205 09:49, 3 October 2013 (UTC)
原典

http://kristian.molhave.dk

作者 yashvant
許可
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全高

569 ピクセル

全幅

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現在の版2006年11月21日 (火) 14:102006年11月21日 (火) 14:10時点における版のサムネイル721 × 569 (86キロバイト)KristianMolhave*Figure Caption: Typical AFM setup. The deflection of a microfabricated cantilever with a sharp tip is measured be reflecting a laser beam off the backside of the cantilever while it is scanning over the surface of the sample. *This illustration was made

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