ファイル:ZEISS Crossbeam 550- Your FIB-SEM for High Throughput 3D Analysis and Sample Preparation (33411552526).jpg

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概要

解説
English: With ZEISS Crossbeam you benefit from a 3D nano-workstation: combine imaging and analytical performance of a field emission scanning electron microscope (FE-SEM) with the processing ability of a focused ion beam (FIB). For milling, imaging or when performing 3D analytics.
हिन्दी: इस फ़ाइल में अतिरिक्त जानकारी शामिल है जैसे कि Exif मेटाडेटा जो डिजिटल कैमरा, स्कैनर, या सॉफ्टवेयर प्रोग्राम द्वारा इसे बनाने या डिजिटाइज़ करने के लिए उपयोग किया गया हो सकता है। यदि फ़ाइल को उसकी मूल स्थिति से संशोधित किया गया है, तो टाइमस्टैम्प जैसे कुछ विवरण पूरी तरह से मूल फ़ाइल को प्रतिबिंबित नहीं कर सकते हैं। टाइमस्टैम्प केवल कैमरे में घड़ी के रूप में सटीक है, और यह पूरी तरह से गलत हो सकता है।
日付
原典 ZEISS Crossbeam 550: Your FIB-SEM for High Throughput 3D Analysis and Sample Preparation
作者 ZEISS Microscopy from Germany

Images donated as part of a GLAM collaboration with Carl Zeiss Microscopy - please contact Andy Mabbett for details.

ライセンス

w:ja:クリエイティブ・コモンズ
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この画像は当初、ZEISS Microscopy によって Flickr の https://flickr.com/photos/75834543@N06/33411552526 に投稿されたものです。2017-04-15、FlickreviewR ボットによってレビューされ、cc-by-2.0 のライセンスで提供されていることが確認されました。

2017年4月15日

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題材

成立日

15 3 2017

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現在の版2017年4月15日 (土) 22:542017年4月15日 (土) 22:54時点における版のサムネイル5,717 × 4,940 (1.65メガバイト)PigsonthewingTransferred from Flickr via Flickr2Commons

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