ファイル:Kelvin probe force microscopy.svg

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概要

解説 In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinusoid whose frequency matches the mechanical resonance of the cantilever. The cantilever is driven into oscillation by electrostatic forces where the DC potential difference between the surface and the cantilever is non-zero. Using a four-quadrant detector and an A/D to detect cantilever motion, the feedback circuit drives the DC signal to the surface potential, minimizing cantilever motion and resulting in a map of the work function of the surface.
日付 March 1, 2008 (UTC+0100)
原典 投稿者自身による著作物
作者 Inkwina (トーク · 投稿記録)
その他のバージョン

このファイルの派生的著作物：  Kelvin probe force microscopy DE.svg

Image:Kpfm.png
Inkscape-ws 
このW3C-unspecified ベクター画像はInkscapeで作成されました .

Credit

Based on Image:Kpfm.png drawn by Alison Chaiken using the xfig program. Originally uploaded as w:Kpfm.png.

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2008年3月1日 (土) 16:212008年3月1日 (土) 16:21時点における版のサムネイル860 × 470 (84キロバイト)Inkwina{{Information |Description=In Kelvin probe force microscopy, a conducting cantilever is scanned over a surface at a constant height while an AC+DC potential is applied. The AC signal is a sinu

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