テスト対象システム
（被試験システムから転送）
テスト対象システム（テストたいしょうシステム、英: System under test、SUT）は、正常な動作についてテストされているシステムのことを指す。被試験システム（ひしけんシステム）と言うこともある。国際ソフトウェアテスト資格認定委員会によると、これはテストを行うオブジェクト[1][2][3]のこと。この用語は主にソフトウェアテストで使用される[要出典]。
ソフトウェアシステムがアプリケーションソフトウェアの場合は、「テスト対象アプリケーション」と呼ばれる。
システムテストはテストサイクルの中では統合テストの後に行われるため、SUTという用語はソフトウェアの成熟段階を指すこともある[要説明]。
関連項目[編集]
脚注[編集]
- ^ “ISTQB Glossary”. glossary.istqb.org. 2018年2月5日閲覧。
- ^ “Don't Stub the System Under Test”. robots.thoughtbot.com. 2018年2月5日閲覧。
- ^ “SUT (system under test)” (ドイツ語). www.itwissen.info. 2021年2月24日閲覧。